摘要
雪崩光电二极管（APD）作为一种高灵敏度光电探测器，广泛应用于激光雷达、单光子探测、光纤通信等领域。
然而，APD在长期工作中会发生性能退化，即老化现象，这严重影响了其使用寿命和系统可靠性。
为了研究APD老化机理、评估其可靠性以及优化器件设计，迫切需要开发高效、精准的APD老化测试系统。
本论文综述了APD老化测试技术的研究现状，首先介绍了APD老化机理和测试方法，然后分析了现有老化测试软件平台的特点和不足，最后总结了APD老化软件系统的发展趋势。
关键词：雪崩光电二极管；老化；测试系统；软件设计；文献综述
#1.1雪崩光电二极管（APD）雪崩光电二极管（AvalanchePhotodiode,APD）是一种内部具有放大功能的光敏半导体器件，其工作原理基于光电效应和雪崩倍增效应。
当光子入射到APD的耗尽区时，会激发产生电子-空穴对。
在高反向偏压电场的作用下，这些载流子被加速并获得足够的能量，与晶格原子发生碰撞电离，产生新的电子-空穴对，从而引发雪崩倍增，实现光电流的内部放大。
#1.2APD老化APD老化是指器件在长期工作过程中，由于各种物理化学因素的影响，导致其性能逐渐下降的现象。
这些因素包括：表面效应:表面态、表面污染等会影响器件的暗电流和增益。
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