文献综述（或调研报告）：
- 余辉效应的产生；
余辉是闪烁晶体在X射线停止照射后仍持续释放光能量造成的。碘化铯晶体的余辉现象十分明显，这大大影响了成像的质量。实验证明，闪烁体的余辉[1]近似按照指数形式衰减[2]，“拖尾”模糊可以看作线性、位置不变的退化过程。此外，在安检系统成像过程中，会有几个方面引入噪声：
- X射线射线源引入噪声
X射线是高温阴极灯丝释放的电子经高压电场加速后高速轰击阳极金属靶产生的。X射线的产生过程是个随机过程，形成量子涨落，使辐射出的X射线光子的数量有一定的起伏[3]，到达闪烁体探测器的X射线强度存在随机噪声。
- 系统电路部分引入噪声
在系统电路中，电阻，电容等电子元件由于工艺和半导体等原因也会引入噪声[4]。
在本实验中，对于安检图像，图像中的噪声不只是简单的加性噪声，也不单纯是乘性噪声，而是两种噪声的混合，并且确定噪声类型为高斯噪声[5]，为将问题简化，对于混合的噪音，只考虑加性噪音，由此，安检图像中余辉效应所导致的拖尾模糊可以用通用图像退化模型表示，
g = h * * f n
其中，f表示原图像，g表示实际得到的安检图像，* * 表示卷积运算，h表示退化函数，n表示引入噪音。
在一个线性空间不变的系统中，也可以表示为
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